—— PROUCTS LIST
- 電壓擊穿試驗(yàn)儀
- 電阻測(cè)試儀
- 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀
- 拉力試驗(yàn)機(jī)
- 總有機(jī)碳分析儀
- 低溫脆性沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 完整性測(cè)試儀
- 漏電起痕試驗(yàn)機(jī)
- 磨擦磨損試驗(yàn)機(jī)
- 耐電弧試驗(yàn)儀
- 門(mén)尼粘度儀
- 落錘沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 垂直燃燒試驗(yàn)儀
- 熱老化試驗(yàn)箱
- 氧指數(shù)試驗(yàn)儀
- 泡沫落球回彈試驗(yàn)儀
- 橡膠硫化儀
- 氣動(dòng)沖片機(jī)
- 啞鈴制樣機(jī)
- 熱變形維卡軟化點(diǎn)測(cè)試儀
- 落球沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 阿克隆摩擦試驗(yàn)機(jī)
- 恒溫恒濕試驗(yàn)箱
- 海綿落球回彈率測(cè)試儀
- 塑料球壓痕硬度計(jì)
- 毛細(xì)管流變儀
- 裁刀
- 海綿泡沫壓陷硬度試驗(yàn)儀
- 擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 熱變形維卡軟化點(diǎn)測(cè)定儀
- 熔體流動(dòng)速率儀
- 平板硫化機(jī)
- 簡(jiǎn)支梁沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 微量水分測(cè)定儀
- 制樣機(jī)
- 灼熱絲試驗(yàn)儀
- 疲勞沖擊測(cè)試儀
- 缺口制樣機(jī)
- 差示掃描量熱儀
- 紫外老化試驗(yàn)箱
- 可塑性試驗(yàn)機(jī)
- 導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定儀
- 鼓風(fēng)干燥箱
- 邵氏硬度計(jì)
- 海綿泡沫拉伸強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)
- 電池內(nèi)阻測(cè)試儀
- 石油產(chǎn)品全自動(dòng)凝點(diǎn)傾點(diǎn)測(cè)試儀
- 閉口閃點(diǎn)全自動(dòng)測(cè)定儀
半導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試儀對(duì)探針的要求
半導(dǎo)電材料(如硅、鍺、化合物半導(dǎo)體、導(dǎo)電高分子、半導(dǎo)體陶瓷等)的電阻率測(cè)試,尤其是使用四探針?lè)〞r(shí),對(duì)探針有非常嚴(yán)格的要求。這是因?yàn)榘雽?dǎo)體的電阻率對(duì)測(cè)量條件(如接觸、壓力、注入電流)非常敏感,且探針本身會(huì)影響測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。
以下是半導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試儀對(duì)探針的主要要求:
1.材質(zhì)與電學(xué)特性:
低電阻率:探針本身必須是優(yōu)良導(dǎo)體(如鎢、碳化鎢、鎢錸合金、鍍金或鍍銥的硬質(zhì)合金),以最小化探針自身的電阻和熱效應(yīng)。
高硬度與耐磨性:探針針尖需要非常堅(jiān)硬(常用鎢或碳化鎢),以:
穿透材料表面可能存在的氧化層或污染層,形成良好的歐姆接觸。
抵抗反復(fù)接觸帶來(lái)的磨損,保持針尖形狀和尺寸穩(wěn)定,保證長(zhǎng)期測(cè)量的重復(fù)性。
承受必要的接觸壓力而不易變形。
化學(xué)穩(wěn)定性:探針材料不應(yīng)與待測(cè)半導(dǎo)體材料發(fā)生化學(xué)反應(yīng)或擴(kuò)散,避免污染樣品或改變接觸特性。鎢和碳化鎢在這方面通常表現(xiàn)良好。
高熔點(diǎn):防止在大電流測(cè)試或接觸不良產(chǎn)生火花時(shí)熔融。
2.針尖幾何形狀:
尖銳度(曲率半徑小):針尖必須非常尖銳(曲率半徑通常在幾微米到幾十微米,如10μm-50μm范圍常見(jiàn))。尖銳的針尖:
減小接觸面積:對(duì)于半導(dǎo)體,較小的接觸面積有助于形成更接近理想點(diǎn)接觸的歐姆接觸,降低接觸電阻的非線性和對(duì)載流子注入的影響。
穿透表面層:更容易刺破表面氧化層或鈍化層,確保與體材料接觸。
精確定位:對(duì)于需要小間距測(cè)量的場(chǎng)合(如微區(qū)四探針),尖銳針尖是必須的。
針尖形狀一致性:一套四根探針的針尖形狀、尺寸和尖銳度必須高度一致,以確保每根探針的接觸電阻和接觸特性盡可能相同。這是四探針?lè)ǖ窒佑|電阻影響的關(guān)鍵前提之一。
3.機(jī)械特性與安裝:
剛性:探針桿需要足夠剛性,在施加接觸壓力時(shí)彎曲變形極小,保證探針間距的精確性和穩(wěn)定性。
直線度:探針本身必須非常平直,避免因彎曲導(dǎo)致針尖位置偏離或間距變化。
平行度與共面性(四探針?lè)?/span>):這是最關(guān)鍵的要求之一。對(duì)于直線排列的四探針:
四根探針的針尖必須嚴(yán)格共線且在一條直線上。
四根探針的針尖必須嚴(yán)格共面(位于同一水平面上)。任何一根探針針尖高度不一致都會(huì)引入顯著的測(cè)量誤差。
探針之間的間距必須精確、均勻且已知(常用的有1.0mm,1.59mm,2.0mm等)。間距精度直接影響電阻率計(jì)算結(jié)果。
穩(wěn)固安裝:探針必須牢固、無(wú)晃動(dòng)地安裝在探針座上,保證測(cè)量過(guò)程中間距和位置絕對(duì)穩(wěn)定。通常使用精密彈簧或氣動(dòng)裝置施加恒定、適中的壓力。
4.接觸要求:
歐姆接觸:探針與半導(dǎo)體材料之間需要形成良好的歐姆接觸。這意味著接觸處的電流-電壓特性是線性的(遵循歐姆定律),接觸電阻相對(duì)穩(wěn)定且可被四探針?lè)ㄓ行У窒?/span>
對(duì)于某些難以形成歐姆接觸的半導(dǎo)體(如高禁帶寬度的化合物半導(dǎo)體),可能需要專門(mén)的表面處理、合金化探針或更高的接觸壓力。
接觸壓力:
足夠高:需要足夠且恒定的壓力來(lái)穿透表面層、減小接觸電阻并保持接觸穩(wěn)定。壓力過(guò)低會(huì)導(dǎo)致接觸不良、噪聲大、結(jié)果不穩(wěn)定。
適度且可控:壓力過(guò)大可能損傷樣品(尤其是薄片、晶圓或器件)或?qū)е绿结樶樇庾冃巍毫π枰鶆虻厥┘釉诿扛结樕?。探針座通常配備精密壓力調(diào)節(jié)裝置。
重復(fù)性:每次測(cè)量的接觸壓力應(yīng)保持一致,以保證測(cè)量的可重復(fù)性。
5.清潔度:
探針針尖必須保持高度清潔,無(wú)氧化、無(wú)油污、無(wú)殘留物。污染物會(huì)顯著增大接觸電阻,導(dǎo)致測(cè)量不穩(wěn)定或錯(cuò)誤。
需要定期用適當(dāng)?shù)娜軇ㄈ鐭o(wú)水乙醇、丙酮)清潔探針,必要時(shí)使用細(xì)砂紙或?qū)S醚心ジ啵O其謹(jǐn)慎地)修復(fù)鈍化的針尖,嚴(yán)重磨損或污染的探針需要更換。
總結(jié)關(guān)鍵點(diǎn):
對(duì)于半導(dǎo)體的四探針電阻率測(cè)試,理想的探針應(yīng)具備:
材質(zhì):高硬度、高熔點(diǎn)、低電阻率、化學(xué)穩(wěn)定的導(dǎo)體(鎢/碳化鎢及其合金為主)。
針尖:極其尖銳(小曲率半徑),形狀尺寸高度一致。
機(jī)械:剛性、平直、四針嚴(yán)格共線、共面、間距精確均勻恒定。
接觸:能形成良好歐姆接觸,施加恒定、適中、均勻的壓力。
維護(hù):保持高度清潔,及時(shí)更換磨損探針。
選擇和使用建議:
根據(jù)樣品選擇:對(duì)于硬質(zhì)材料(如硅、GaAs晶圓),硬質(zhì)合金探針(鎢、碳化鎢)。對(duì)于較軟或怕劃傷的材料(如某些有機(jī)半導(dǎo)體、薄膜),可考慮鍍金探針(犧牲一些硬度換取更軟的接觸,但需注意金的遷移問(wèn)題),或仔細(xì)調(diào)節(jié)壓力。
校準(zhǔn):定期使用標(biāo)準(zhǔn)電阻率樣品對(duì)整套探針系統(tǒng)(包括間距)進(jìn)行校準(zhǔn)。
操作:輕拿輕放,避免碰撞探針。確保樣品表面清潔平整。施加壓力時(shí)動(dòng)作平穩(wěn)。
維護(hù):建立定期清潔和檢查探針狀態(tài)(尤其是尖銳度、共面性)的規(guī)程。
滿足這些苛刻要求的探針系統(tǒng)是獲得準(zhǔn)確、可靠、可重復(fù)的半導(dǎo)電材料電阻率測(cè)量結(jié)果的基礎(chǔ)。